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测试测量共享服务,工程师的美味大餐

2018年6月12日 13:30 ~ 2018年6月12日 17:00

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    活动背景

    随着技术革新速度的加快,测试测量持续推动着科研技术的更新迭代。作为保证创新技术质量的重要一环,测试测量贯穿设计研发、实验验证等各个环节。行业用户需要更为快速可靠、灵活通用的测试解决方案,帮助科研攻关; 同时保证创新科技质量,降低科研成本,增快响应速度,缩短面市时间,让创新技术快速落地。

    通过透视测试行业的发展现状,方用测试网探索出一条测试测量行业新模式,通过互联网搭建测试服务共享平台,帮助工程师找到更好的测试方法和测试设备,并提供可靠和便利的测试服务,从而降低科研成本,促进新技术、新产品的快速发展。 


    活动主题

    主题一:透视测试测量行业如何推进IC等高科技行业的发展

    概要:在科学技术发展和产品研发的过程中离不开测试测量数据的支撑,测试结果对产品可靠性起着至关重要的作用。目前测试测量行业的现状是测试仪表的价格昂贵,测试技术操作难度大,掌握困难,使测试技术没有在产品研发中起到很好的促进作用。随着新技术的发展,测试技术也需要不断的研发,提升,为新技术提供可靠的数据支撑。

    通过透视测试行业的发展现状,可以帮助我们找到更好的方法,在成本、效率、可靠性、便利性、长期开发等方面用测试技术促进产业发展。 

     

    主题二:测试服务共享平台为研发科研提供高效的测试条件

    概要:以往,研发企业都是通过购买设备,或者租赁设备来解决测试需求。方用测试网通过互联网的形式,把实验室冗余的设备资源开发利用,为研发企业提供便利的测试条件,并结合自身的测试技术积累,形成了设备+方法=服务的共享模式。

     

    主题三:测试方法在人工智能技术方面的应用

    概要:从人工智能的发展现状,从测试标准、测试方法、测试规范等方面阐述测试技术如何推动人工智能产品的研发及应用

     

    主题四:推进 IC 技术发展:毫米波芯片测试方案规划及实施 

    概要:对于器件建模、技术开发、半导体工艺开发和规范、过程控制、元器件定标和试生产来说,精确和可重复的晶圆级(OnWafer)测量必不可少。半导体技术正在不断发展,产品从设计到上市的速度越来越快,同时对于更高精度的需求也日益增加。面对这些挑战,用户亟需一款综合的解决方案,以快速和精确地对元器件实施先进的直流和射频测量。

     

    主题五:测试方法在物联网技术方面的应用

    概要:从物联网的发展现状,从测试标准、测试方法、测试规范等方面阐述测试技术如何推动物联网的研发及应用


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    嘉宾介绍

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    叶伟斌 

    方用科技有限公司 总经理

    电子测试测量行业的高级专家。毕业于哈尔滨工业大学微波技术专业;加入航天系统,从事航天微波软件工程设计;随后加入中国惠普,在惠普/安捷伦/是德公司一直从事测试测量技术工作。在射频微波测试领域具有深厚的造诣,积累了丰富的理论知识和实践经验,尤其在天线测试、材料测试、电磁兼容测试方面拥有极高的系统设计水平,极强的实际测试和分析能力。通过长期积累的丰富知识实现了测试测量跨行业的应用,能够为各行各业规划出测试测量策略和方法,并利用先进的测试理论和科学仪器,为科学研究和产品研发提供实际测试服务,解决重点、难点问题。


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    安博 

    清华大学天津电子信息研究院集成电路建模与检测技术研究所副主任

    启发(天津)电子科技有限公司市场总监

    研究生毕业于英国格拉斯哥大学电子电气工程专业,主要研究方向为三五族半导体器件工艺优化。2014-2016年在英国格拉斯哥大学詹姆斯·瓦特微纳制造中心参与砷化镓器件工艺研发及性能测试,独立搭建半自动在片大信号测试系统。2016年加入清华大学天津电子信息研究院,主导了研究院毫米波单片芯片实验室的建设工作,实验室配备业内领先的110GHz四端口差分矢量网络分析系统。2018年参与筹办启发(天津)电子科技有限公司,公司主营业务为以毫米波芯片为主导的集成电路建模与检测和相关领域的工程师培训。

    通过不断积累各领域毫米波芯片案例,对相关测试方案制定,测试环境配置有一定的理解。同时结合半导体工艺相关经验,逐渐开展器件的提参建模及仿真工作。


    活动礼品

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    充电宝5个



    主办单位

    2018年“创响中国”活动组委会


    执行单位

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